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2024-12-16
2024-12-16
2024-11-16
2024-11-16
2024-11-14
原装现货 USHIO牛尾 紫外线照度计能量计UIT-250紫外线光量计是光照度测量仪，可选配UVD-S254分体式或UVD-C254一体式探头,测量波长220-310nm、UVD-S365或UVD-C...
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原装USHIO牛尾 紫外线照度计能量计UIT-250紫外线光量计是光照度测量仪，可选配UVD-S254分体式或UVD-C254一体式探头,测量波长220-310nm、UVD-S365或UVD-C365...
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池田屋现货YAMADA 表面瑕疵检查灯根据具体要求可以选择黄光和白光两种光源 可检测各种缺陷 如硅片 砷化镓 碳化硅等半导体晶片及液晶基板表面的异物 划痕 抛光不均 雾状 划伤等
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原装YAMADA山田光学 表面瑕疵检查灯根据具体要求可以选择黄光和白光两种光源 可检测各种缺陷 如硅片 砷化镓 碳化硅等半导体晶片及液晶基板表面的异物 划痕 抛光不均 雾状 划伤等
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现货日本YAMADA山田光学 表面瑕疵检查灯根据具体要求可以选择黄光和白光两种光源 可检测各种缺陷 如硅片 砷化镓 碳化硅等半导体晶片及液晶基板表面的异物 划痕 抛光不均 雾状 划伤等
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原装供货YAMADA山田光学 表面瑕疵检查灯根据具体要求可以选择黄光和白光两种光源 可检测各种缺陷 如硅片 砷化镓 碳化硅等半导体晶片及液晶基板表面的异物 划痕 抛光不均 雾状 划伤等。
查看详情池田屋现货YAMADA山田光学 表面检查灯根据具体要求可以选择黄光和白光两种光源 可检测各种缺陷 如硅片 砷化镓 碳化硅等半导体晶片及液晶基板表面的异物 划痕 抛光不均 雾状 划伤等。
查看详情日本原装YAMADA山田光学 划痕表面检查灯根据具体要求可以选择黄光和白光两种光源 可检测各种缺陷 如硅片 砷化镓 碳化硅等半导体晶片及液晶基板表面的异物 划痕 抛光不均 雾状 划伤等
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日本YAMADA山田光学 半导体晶片照明灯根据具体要求可以选择黄光和白光两种光源 可检测各种缺陷 如硅片 砷化镓 碳化硅等半导体晶片及液晶基板表面的异物 划痕 抛光不均 雾状 划伤等
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